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中国电子学会可靠性分会第22届全国可靠性物理年会在广州成功召开 时间:2020-11-25 来源:中国电子学会
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中国电子学会可靠性分会第22届全国可靠性物理年会(NRPS2020)于2020102830日在广州召开。大会由中国电子学会可靠性分会、电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室联合主办,工业和信息化部电子第五研究所承办。大会主题:“用可靠铸就经典”。大会出版《2020年全国可靠性物理年会论文集》,收录论文65篇,口头报告30篇。 

1028日晚,中国电子学会可靠性分会第八届委员会第五次全会举行。工信部电子第五研究所总工程师、分会副主任委员恩云飞宣读了中国电子学会发来的贺信。工信部电子第五研究所副总工程师、分会秘书长纪春阳报告了2020年可靠性分会在组织建设、新闻报道、科技交流、科技成果、人才推荐、会员发展及日常管理等方面的工作情况,及2021年工作计划。会议讨论了《可靠性学科发展报告编制方案》的引领性、实用性和定位。工信部电子第五研究所副所长、分会主任委员王蕴辉对分会网站宣传、学术交流、孵化器作用、高端论坛,及发挥委员所在单位专家、技术人员、学生的作用发表了讲话。

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             中国电子学会可靠性分会第八届委员会第五次全会在广州召开

 

1029日上午,第22届全国可靠性物理年会开幕。会议由纪春阳秘书长主持中国工程院院士刘人怀工业和信息化部电子第五研究所副所长王蕴辉分别致辞六位知名专家学者做主题报告大会采用“线下会议+线上直播”方式设主题报告、论文报告、报告点评等环节。


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          大会主席、中国工程院院士刘人怀致辞


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大会执行主席、中国电子学会可靠性分会主任委员、工信部电子第五研究所副所长王蕴辉致辞


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大会程序委员会主任、中国电子学会可靠性分会秘书长工信部电子第五研究所副总工程师纪春阳主持大会


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                                                  29日大会会议现场


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  刘俊堂研究员“基于模型的系统工程实践”主题演讲报告


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 胡林忠总监“民品企业可靠性工程的若干发展趋势”主题演讲报告


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  胡云研究员“基于MBSE的航天产品质量保证工作思考”主题演讲报告


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孙伟锋教授SiC功率MOSFET可靠性研究进展”主题演讲报告


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周斌研究员“基于失效物理的先进封装结构可靠性评价”主题报告


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都安彦研究员作“高端芯片的成品率和可靠性分析:基于反向工程结构分析”主题报告


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       听众与都安彦研究员所作主题报告互动交流


    29日下午和30上午,30名论文作者做了精彩的口头报告4名科研工作者介绍了元器件质量可靠性评测领域相关技术,参会代表交流讨论了最新研究成果。30日下午大会代表参观工业和信息化部电子第五研究所


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           2930日分会场口头报告现场


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        22届全国可靠性物理年会会议代表合影




                                                                                            (供稿:  王  磊      刘东方)