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2019年全国可靠性物理年会在桂林召开 时间:2019-11-13 来源:中国电子学会
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2019年全国可靠性物理年会(NRPS2019)于101618日在桂林召开。本次大会由桂林电子科技大学、中国电子学会可靠性分会、工业和信息化部电子第五研究所、电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室联合主办,大会主题为:“用可靠助力高质量发展”。大会主席由中国工程院院士刘人怀、工业和信息化部电子第五研究所副所长王蕴辉共同担任,程序委员会主任为工业和信息化部电子第五研究所副总工恩云飞、中国电子学会可靠性分会秘书长纪春阳和桂林电子科技大学潘开林处长。大会出版的《2019年全国可靠性物理年会论文集》共收录论文93篇,论文作者单位覆盖航天、航空、航海、高校、研究所、企业等相关单位,经大会组织同行专家评审,共评选出口头报告44篇,海报27

本次会议聚焦可靠性前沿技术及展望、失效模式及失效机理、可靠性/环境适应性试验与评价、可靠性设计与仿真试验、安全性/测试性/保障性及故障诊断、工艺可靠性与稳健性设计等领域的最新科研成果,为来自学术界、工业界和政府机构的100余名专家学者、行业精英、工程技术人员和在校学生搭建交流平台,为高可靠产品的产、学、研、用协同创新提供便捷的交流机会。

本次大会共设主题报告、论文报告、海报、优秀论文颁奖等环节。首先由桂林电子科技大学副校长欧阳缮、中国电子学会副秘书长洪京一、工业和信息化部电子第五研究所副所长王蕴辉分别致辞,随后六位国内知名专家做了精彩的主题报告,分别是航天二院王冬研究员的“航天型号通用质量特性保证体系的构建与实施”、电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室黄云研究员的“基于散裂中子源的大气中子辐照谱仪及试验研究”、桂林电子科技大学杨道国教授的“电子封装中界面层裂研究:实验测试与数值仿真”、北京航空航天大学孙博教授的“基于模型的可靠性系统工程:以可靠性助力质量技术变革”、工业和信息化部电子第五研究所罗道军研究员的“电子产品中的电化学迁移:模型、机理与预防”和浙江大学尹文言教授的“高性能多物理仿真及其在先进器件可靠性与集成防护中的应用”六个主题报告。大会期间71名论文作者做了精彩的口头报告和海报展示,和100多位与会代表交流讨论了最新研究成果。

 欧阳缮.png                        桂林电子科技大学副校长欧阳缮致辞

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                                 大会现场

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                             分论坛现场

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                          2019年全国可靠性物理年会代表